絕緣電阻測(cè)驗(yàn)儀在丈量時(shí)可能會(huì)發(fā)生各種各樣的問(wèn)題需求我們及時(shí)應(yīng)對(duì)處理，歸結(jié)起來(lái)主要有九大問(wèn)題，以下是這九大問(wèn)題的詳細(xì)解析，供我們參考：

1、能不能用兆歐表直接測(cè)帶電的被測(cè)驗(yàn)品，成果有什么影響，為什么？

解析：為了人身安全和正常測(cè)驗(yàn)，原則上是不答應(yīng)丈量帶電的被測(cè)驗(yàn)品，若要丈量帶電被測(cè)驗(yàn)品，不會(huì)對(duì)外表形成損壞（短時(shí)刻內(nèi)），但測(cè)驗(yàn)成果是不精確的，因?yàn)閹щ姾?，被測(cè)驗(yàn)品便與其它試品連接在一同，所以得出的成果不能實(shí)在的反映實(shí)踐數(shù)據(jù)，而是與其它試品一同的并聯(lián)或串聯(lián)阻值。

2、在高壓高阻的測(cè)驗(yàn)環(huán)境中，為什么要求外表接“G”端連線？

解析：在被測(cè)驗(yàn)品兩頭加上較高的額外電壓，且絕緣阻值較高時(shí)，被測(cè)驗(yàn)品外表受濕潤(rùn)，污染引起的走漏較大，示值差錯(cuò)就大，而外表“G”端是將被測(cè)驗(yàn)品外表走漏的電流旁路，使走漏電流不通過(guò)外表的測(cè)驗(yàn)回路，消除走漏電流引起的差錯(cuò)。

3、為什么電子式兆歐表幾節(jié)電池供電能發(fā)生較高的直流高壓?

解析：這是依據(jù)直流改換原理，通過(guò)升壓電路處理使較低的供電電壓提升到較高的輸出直流電壓，發(fā)生的高壓雖然較高但輸出功率較小，如電警棍幾節(jié)電池能發(fā)生幾萬(wàn)伏的高壓。

4、在校測(cè)某些類型絕緣外表“L”、 “E”兩頭額外輸出直流高壓時(shí)，用指針式萬(wàn)用表DCV檔測(cè)L、E兩頭電壓，為什么電壓會(huì)下跌許多，而數(shù)字式萬(wàn)用表則不會(huì)？

解析：用一般的指針式萬(wàn)用表直接在兆歐表“L”、 “E”兩頭丈量其輸出的額外直流電壓，丈量成果與標(biāo)稱的額外電壓值要小許多（超出差錯(cuò)范圍），而用數(shù)字萬(wàn)用表則不會(huì)。這是因?yàn)橹羔樖饺f(wàn)用表內(nèi)阻較小，而數(shù)字萬(wàn)用表內(nèi)阻相對(duì)較大。指針式萬(wàn)用表內(nèi)阻較小，兆歐表L-E端輸出電壓下降許多，不是正常工作時(shí)的輸出電壓。但是，用萬(wàn)用表直接去測(cè)兆歐表的輸出電壓是過(guò)錯(cuò)的，應(yīng)當(dāng)用內(nèi)阻阻抗較大的靜電高壓表或用分壓器等負(fù)載電阻足夠大的方式去丈量。

5、為什么測(cè)絕緣時(shí)，不但要求測(cè)單純的阻值，并且還要求測(cè)吸收比，極化指數(shù)，有什么意義？

解析：在絕緣測(cè)驗(yàn)中，某一個(gè)時(shí)刻的絕緣電阻值是不能全面反映試品絕緣功能的好壞的，這是因?yàn)橐韵聝煞矫嬖?，一方面，同樣功能的絕緣材料，體積大時(shí)呈現(xiàn)的絕緣電阻小，體積小時(shí)呈現(xiàn)的絕緣電阻大。另一方面，絕緣材料在加上高壓后均存在對(duì)電荷的吸收比進(jìn)程和極化進(jìn)程。 所以，電力體系要求在主變壓器、電纜、電機(jī)等許多場(chǎng)合的絕緣測(cè)驗(yàn)中應(yīng)丈量吸收比-即R60s和R15s的比值，和極化指數(shù)-即R10min和R1min 比值，并以此數(shù)據(jù)來(lái)判定絕緣情況的好壞。

6、用兆歐表丈量絕緣電阻時(shí)，有哪些因素會(huì)形成丈量數(shù)據(jù)不精確，為什么？

解析：（1）電池電壓缺乏。電池電壓欠壓過(guò)低，形成電路不能正常工作，所以測(cè)出的讀數(shù)是不精確的。

（2）測(cè)驗(yàn)線接法不正確。誤將“L”、 “G”、 “E”三端接線接錯(cuò)，或?qū)ⅰ癎”、 “L”連線“G”、 “E”連線接在被測(cè)驗(yàn)品兩頭。

（3）“G”端連線未接。被測(cè)驗(yàn)品因?yàn)槭芪廴緷駶?rùn)等因素形成電流走漏引起的差錯(cuò)，形成測(cè)驗(yàn)不精確，此刻必須接好“G”端連線防止走漏電流引起差錯(cuò)。

（4）攪擾過(guò)大。假如被測(cè)驗(yàn)品受環(huán)境電磁攪擾過(guò)大，形成外表讀數(shù)跳動(dòng)?；蛑羔樆蝿?dòng)。形成讀數(shù)不精確。

（5）人為讀數(shù)過(guò)錯(cuò)。在用指針式兆歐表丈量時(shí)，因?yàn)槿藶橐暯遣铄e(cuò)或標(biāo)度尺差錯(cuò)形成示值不精確。

（6）外表差錯(cuò)。外表自身差錯(cuò)過(guò)大，需求從頭校對(duì)。

7、在測(cè)容性負(fù)載阻值時(shí)，兆歐表輸出短路電流巨細(xì)與丈量數(shù)據(jù)有什么關(guān)系，為什么？

解析：兆歐表輸出短路電流的巨細(xì)可反映出該兆歐表內(nèi)部輸出高壓源內(nèi)阻的巨細(xì)。當(dāng)被測(cè)驗(yàn)品存在電容量時(shí)，在測(cè)驗(yàn)進(jìn)程的開(kāi)端階段，絕緣電阻測(cè)驗(yàn)儀內(nèi)的高壓源要通過(guò)其內(nèi)阻向該電容充電，并逐漸將電壓充到兆歐表的輸出額外高壓值。明顯，假如試品的電容量值很大，或高壓源內(nèi)阻很大，這一充電進(jìn)程的耗時(shí)就會(huì)加長(zhǎng)。其長(zhǎng)度可由R內(nèi)和C負(fù)載的乘積決定（單位為秒）。請(qǐng)注意，給電容充電的電流與被測(cè)驗(yàn)品絕緣電阻上流過(guò)的電流，在測(cè)驗(yàn)中是一同流入兆歐表內(nèi)的。兆歐表測(cè)得的電流不僅有絕緣電阻上的重量，也加入了電容充電電流重量，這時(shí)測(cè)得的阻值將偏小。

如：額外電壓為5000V的兆歐表，若其短路輸出電流為80μA(日本共立產(chǎn))，其內(nèi)阻為5000V/80μA＝62MΩ

如：試品容量為0.15μF，則時(shí)刻常數(shù)τ=62MΩ×0.15μF≈9 (秒)即在18秒時(shí)刻，電容上的充電電流仍有11.3μA。

由此可見(jiàn)，僅由充電電流而形成的等效電阻為5000V/11.3μA＝442MΩ,若正常絕緣為1000MΩ，則顯現(xiàn)的測(cè)得絕緣值僅為306MΩ。這種試值已不能反映絕緣值的實(shí)在情況了，并且試值主要是隨容性負(fù)載容量的改動(dòng)而改動(dòng)，即容量小，測(cè)驗(yàn)阻值大；容量大，測(cè)驗(yàn)阻值小。

所以，為保障精確測(cè)得R15s，R60s的試值，應(yīng)選用充電速度快的大容量兆歐表。我國(guó)的相關(guān)規(guī)程要求兆歐表輸出短路電流應(yīng)大于0.5mA、1 mA、2 mA、5 mA，要求高的場(chǎng)合應(yīng)盡量選擇輸出短路電流較大的兆歐表。

8、為什么不同兆歐表測(cè)出示值存在差異？

解析：因?yàn)楦邏赫讱W表測(cè)驗(yàn)電源非抱負(fù)電壓源，內(nèi)阻Ri不同丈量回路串接電阻Rm不同，動(dòng)態(tài)丈量精確度不同，以及現(xiàn)場(chǎng)丈量操作的不合理或失誤等，不同類型兆歐表對(duì)同一被測(cè)驗(yàn)品的丈量成果會(huì)存在差異。實(shí)踐丈量時(shí)，應(yīng)結(jié)合兆歐表絕緣實(shí)驗(yàn)條件的特殊性盡量下降可能呈現(xiàn)的各種丈量差錯(cuò)：

（1）不同類型的絕緣表丈量同一試品時(shí)， 應(yīng)采用相同的電壓等級(jí)和接線辦法。例如在丈量電力變壓器高壓繞組絕緣中，當(dāng)繞組引出端始終接兆歐表L端鈕時(shí)，就有： E端鈕接低壓繞組和外殼，而G端鈕懸空的直接法； E端鈕接低壓繞組，而G端鈕接外殼的外殼屏蔽法（低電位屏蔽）；G端鈕接在高壓繞組套管的外表，而E端鈕先接低壓繞組，然后分別再和外殼相連或不相連的兩種套管屏蔽法（高電位屏蔽）。 E端鈕接外殼，而G端鈕接低壓繞組等接線辦法。 不同結(jié)構(gòu)、制式的兆歐表，G端鈕電位不同，G端鈕在套管外表的安放位置也應(yīng)隨之改動(dòng)位。

（2）不同類型兆歐表的量程和示值的刻度辦法不同，刻度分辨力不同，丈量精確度等級(jí)不同，都會(huì)引起示值間的差異。為了確保對(duì)電力設(shè)備的精確丈量，應(yīng)防止選用精確度低，運(yùn)用不方便的搖表。

（3）試品大多含容性重量，并存在介質(zhì)極化現(xiàn)象，即使測(cè)驗(yàn)條件相同也難以獲得抱負(fù)的數(shù)據(jù)重復(fù)性。

（4）丈量時(shí)，絕緣介質(zhì)的溫度和油溫應(yīng)與環(huán)境溫度一致，一般答應(yīng)相差±5%。

（5）應(yīng)在特定時(shí)刻段的答應(yīng)時(shí)刻差范圍內(nèi)，盡快地讀取丈量值。為使丈量差錯(cuò)不高于±5%，讀取R60S的時(shí)刻答應(yīng)差錯(cuò)±3S，而讀取R15S的時(shí)刻不該相差±1S。

（6）高壓測(cè)驗(yàn)電源非抱負(fù)電壓源，重負(fù)荷（被測(cè)驗(yàn)品絕緣電阻值?。r(shí)，輸出電壓低于其額外值，這將導(dǎo)致單支路直讀丈量法兆歐表丈量精確度因轉(zhuǎn)化系數(shù)的改動(dòng)而下降。這種改動(dòng)因兆歐表測(cè)驗(yàn)電源負(fù)荷特性不同而異。

（7）不同動(dòng)態(tài)測(cè)驗(yàn)容量目標(biāo)的兆歐表，實(shí)驗(yàn)電壓在試品上（及采樣電阻上）的建立進(jìn)程與對(duì)試品的充電才能均存在差異，丈量成果也會(huì)不同，運(yùn)用低于動(dòng)態(tài)測(cè)驗(yàn)容量目標(biāo)門限值的兆歐表丈量時(shí)，因?yàn)橥獗泶嬖趹T性網(wǎng)絡(luò)（包含指針式外表的機(jī)械慣性）導(dǎo)致示值響應(yīng)速度較慢，來(lái)不及正確反映試品實(shí)在絕緣電阻值隨時(shí)刻的改動(dòng)規(guī)則，尤其是在測(cè)驗(yàn)的開(kāi)始階段，電容充電電流未徹底衰減為零，更會(huì)使R15S和吸收比讀測(cè)值發(fā)生較大差錯(cuò)（偏?。?。

（8）試品絕緣介質(zhì)極化情況與外加實(shí)驗(yàn)電壓巨細(xì)有關(guān)。因?yàn)閷?shí)驗(yàn)電壓不能敏捷到達(dá)額外值，或因兆歐表測(cè)驗(yàn)電源負(fù)荷特性不同導(dǎo)致施加于試品上實(shí)驗(yàn)電壓的差異，使試品初始極化情況不同，導(dǎo)致吸收電流不同，使緣電阻丈量的示值不同。

（9）國(guó)外某些兆歐表的實(shí)驗(yàn)高電壓連續(xù)可調(diào)，開(kāi)機(jī)后先由零調(diào)節(jié)至額外值。兆歐表讀數(shù)開(kāi)始時(shí)刻的不確定性，以及高壓到達(dá)額外值時(shí)刻的不確定性，使試品初始極化不同，也將引起示值間的不同。

（10）不同兆歐表現(xiàn)場(chǎng)攪擾的敏感度和抵擋才能不同，對(duì)同一試品的讀測(cè)值會(huì)存在差異。

（11）數(shù)據(jù)隨機(jī)崎嶇的常規(guī)丈量差錯(cuò)和兆歐表辦法差錯(cuò)不同等引起示值間的差異。

（12）介質(zhì)放電不充沛是重復(fù)丈量成果存在差異的重要原因之一。據(jù)試品充電吸收電流與其反向放電電流對(duì)應(yīng)和可逆的特色，若需對(duì)同一試品進(jìn)行第2次重復(fù)丈量，次丈量完畢后的試品短路放電間歇時(shí)刻一般應(yīng)長(zhǎng)于丈量時(shí)刻，以放盡所積累的吸收電荷量，使試品絕緣介質(zhì)充沛恢復(fù)到原先無(wú)極化狀況，否則將影響第2次丈量數(shù)據(jù)的精確度。為使被試品上無(wú)剩下電荷，每一次實(shí)驗(yàn)前也應(yīng)該將丈量端對(duì)地短路放電，有時(shí)乃至需時(shí)近1小時(shí)，并應(yīng)撤除與無(wú)關(guān)設(shè)備間的聯(lián)線。總歸，同一試品不同時(shí)期的絕緣丈量，應(yīng)采用相同的實(shí)驗(yàn)電壓等級(jí)和接線辦法，并盡可能運(yùn)用同一類型或功能相近的絕緣電阻表，以確保丈量數(shù)據(jù)的可比性。

（13）最終還應(yīng)特別強(qiáng)調(diào)選用動(dòng)態(tài)丈量精確度較低和高壓測(cè)驗(yàn)電源容量較低的外表，因?yàn)殡娙莩潆婋娏魃形磸氐姿p為零，以及外表明值不能精確地實(shí)時(shí)跟從試品視在絕緣電阻值的改動(dòng)，讀測(cè)R15S阻值偏低，呈現(xiàn)較大差錯(cuò)，導(dǎo)致試品吸收比測(cè)驗(yàn)值虛假偏高，應(yīng)引起測(cè)驗(yàn)人員特別注重。這也可能是各種類型高壓兆歐表丈量同一試品時(shí)吸收比讀測(cè)值存在差異的主要原因。由此也闡明吸收比判比目標(biāo)不及極化指數(shù)科學(xué)和客觀。

9、高阻絕緣表現(xiàn)場(chǎng)測(cè)容性負(fù)載時(shí)（如主變），指針顯現(xiàn)阻值在某一區(qū)間突然下跌（不是正常測(cè)驗(yàn)時(shí)的最大值區(qū)間內(nèi)的緩慢小幅擺動(dòng)），快速來(lái)回?cái)[動(dòng)，是什么原因？

解析：形成該現(xiàn)象主要是實(shí)驗(yàn)體系內(nèi)某部位呈現(xiàn)放電打火。絕緣表向容性被測(cè)驗(yàn)品充電中，當(dāng)容性試品被充至一定電壓時(shí)，假如外表內(nèi)部測(cè)驗(yàn)線或被測(cè)驗(yàn)品中任一部位有擊穿放電打火，就會(huì)呈現(xiàn)上述現(xiàn)象。 判別辦法：

（1）外表測(cè)驗(yàn)座不接入測(cè)驗(yàn)線，開(kāi)啟電源和高壓，看外表內(nèi)是否有打火現(xiàn)象發(fā)生（若有打火可聽(tīng)到放電打火聲）。

（2）接上L、G、E測(cè)驗(yàn)線，不接被測(cè)驗(yàn)品，L測(cè)驗(yàn)線末端線夾懸空，開(kāi)啟高壓，看測(cè)驗(yàn)導(dǎo)線是否有打火現(xiàn)象發(fā)生。若有打火現(xiàn)象，則查看：a）L、G測(cè)驗(yàn)線芯線（L端）與裸露在外的線（G端）是否過(guò)近，發(fā)生拉弧打火。b）L端芯線插頭與測(cè)驗(yàn)座屏蔽環(huán)或測(cè)驗(yàn)夾子與被測(cè)驗(yàn)品接觸不良形成打火。c）測(cè)驗(yàn)線與插頭、夾子之間虛焊斷路，形成間隙放電。

（3）接入被測(cè)驗(yàn)品，查看末端線夾與試品接觸點(diǎn)鄰近有無(wú)放電打火。 掃除以上原因，接好被測(cè)驗(yàn)品，開(kāi)啟高壓，若外表仍有上述現(xiàn)象則闡明被測(cè)驗(yàn)品絕緣擊穿形成局部放電或拉弧。